Back

METODĂ ŞI APARAT PENTRU VALIDAREA IN-FIELD A ETALONĂRII ÎN RADIANŢĂ ŞI IRADIANŢĂ SPECTRALĂ A SISTEMELOR SPECTRORADIOMETRICE CU OPTICĂ DUBLĂ AVÂND REZOLUŢIE SPECTRALĂ RIDICATĂ, UTILIZATE PENTRU MONITORIZAREA VEGETAŢIEI

SOLICITANT

Institutul National de cercetare dezvoltare pentru Fizica Laserilor, Plasmei si Radiatiei – INFLPR

TITLUL CERERII DE BREVET/BREVETULUI

METODĂ ŞI APARAT PENTRU VALIDAREA IN-FIELD A ETALONĂRII ÎN RADIANŢĂ ŞI IRADIANŢĂ SPECTRALĂ A SISTEMELOR SPECTRORADIOMETRICE CU OPTICĂ DUBLĂ AVÂND REZOLUŢIE SPECTRALĂ RIDICATĂ, UTILIZATE PENTRU MONITORIZAREA VEGETAŢIEI

REZUMAT

Invenţia se referă la o metodă şi la un aparat portabil utilizat pentru a valida etalonarea radiometrică (în unităţi de radianţă şi iradianţă) şi spectrală a unui sistem spectroradiometric cu rezoluţie spectrală ridicată, cu optică dublă (SSOD) pentru colectarea radiaţiei directe şi indirecte pe suprafaţa opticii frontale, în condiţii reale de utilizarea a acestuia. Aparatul conform invenţiei cuprinde: o sursă (4) de radianţă spectrală uniformă, o sursă (11) spectrală cu linii de emisie multiple, un spectroradiometru (16) cu rezoluţie spectrală ridicată, cu optică dublă de colectare a semnalului optic, utilizat ca standard de transfer, un sistem (2) de încălzire/răcire pentru stabilizare termică a aparatului pe perioada testelor, o sursă (18) de alimentare cu energie electrică, cu posibilitate de încărcare de la un panou solar, o unitate (1) de transport rezistentă la şocuri şi factori de mediu, senzori (12) de temperatură şi senzori (13) de umiditate pentru monitorizarea continuă a condiţiilor de lucru din interiorul şi din exteriorul aparatului şi o unitate (3) de calcul, portabilă, pentru controlul şi achiziţia continuă a datelor înregistrate de diferitele componente ale aparatului şi de sistemele de control adiacente acestora. Metoda conform invenţiei constă în măsurarea şi corectarea automată, de către unitatea (3) de calcul, a responsivităţii radianţei şi iradianţei spectrale a unui spectroradiometru (19), în funcţie de condiţiile de măsurare, în raport cu trasabilitatea unei surse de validare constând în acest caz din sursa (4) de radianţă spectrală şi în raport cu diferenţele dintre condiţiile de lucru din teren, faţă de cele din laborator

REVENDICARI

  1. Aparat ValGEOS pentru validarea etalonării radiometrice a unui spectroradiometru (19) având rezoluţie spectrală ridicată cu optică dublă pentru colectarea radiaţiei optice directe şi indirecte pe senzor, caracterizat prin aceea că este alcătuit din sursă de radianţă spectrală uniformă (4), cValRad, conform figurilor 3, 7; sursa spectrală cu linii de emisie multiple (11) (cValSpec); spectroradiometru cu rezoluţie spectrală ridicată cu optică dublă de colectare a semnalului optic, utilizat ca standard de transfer (ST) (16); sistem de încălzire/răcire (2); sistem de alimentare cu energie electrică (18) cu posibilitatea de încărcare la (20) panou solar; unitate de transport rezistentă la şocuri şi factori de mediu (T şi RH), ce respectă standardul IP67 (1); senzori de temperatură (12) şi senzori de umiditate (13) pentru monitorizarea continuă a condiţiilor de lucru din interiorul aparatului şi din exteriorul acestuia; unitate de calcul portabil pentru controlul şi achiziţia continuă a datelor (13) înregistrate de către (2), (17), (16), (15).
  2. Aparat ValGEOS conform revendicării 1, caracterizat prin faptul că utilizează un spectrometru pentru a monitorizarea sistemului, care este menţinut la aceeaşi temperatură şi în acelaşi mediu ca şi sistemul care este etalonat şi/sau validat.
  3. Aparat ValGEOS conform revendicării 1 , caracterizat prin aceea că utilizează o sursă de alimentare de precizie pentru lampa de emisie (5) integrată în sfera integratoare (4), acordabilă, cu un control al tensiunii de ieşire în gama de 0,5%, indiferent de sarcina şi temperatură de funcţionare, obţinută dintr-o sursă în comutaţie ce asigură o precizie de 4% controlată suplimentar de un microsistem în buclă închisă ce măreşte controlul parametrilor de ieşire la o precizie de 0,2%.
  4. Aparat ValGEOS conform revendicării 1, caracterizat prin aceea că utilizează o metodă de corectare a diferenţelor de etalonare a radianţei şi iradianţei spectrale a aparatului ValGEOS, conform revendicării 1, în raport cu standardele primare de radianţă şi iradianţă spectrală din laborator.
  5. Aparat ValGEOS conform revendicării 1, caracterizat prin aceea că utilizează o metodă de corectare a etalonării radianţei şi iradianţei spectrale a spectroradiometrul (19), pentru condiţiile de măsurare din locaţia în care este utilizat (19), faţă de cele în care a fost etalonat (din laborator).
  6. Metodă pentru validarea etalonării radiometrice a unui spectroradiometru având rezoluţie spectrală ridicată cu optică dublă pentru colectarea radiaţiei optice directe şi indirecte pe senzor, caracterizată prin aceea că permite măsurarea şi corectarea etalonării radianţei / iradianţei spectrale a aparatului conform revendicării 1, în raport cu standardele primare din laborator.
  7. Metodă pentru validarea etalonării radiometrice a unui spectroradiometru având rezoluţie spectrală ridicată cu optică dublă pentru colectarea radiaţiei optice directe şi indirecte pe senzor, caracterizată prin aceea că permite măsurarea şi corectarea etalonării radianţei şi iradianţei spectrale a spectroradiometrul (19), în raport cu condiţiile de măsurare din locaţia în care este utilizat (19), faţă de cele în care a fost etalonat (din laborator).

Data publicare

30.01.2024

Doriti informatii suplimentare?

[email protected]

Postează un comentariu

Adresa ta de email nu va fi publicată. Câmpurile obligatorii sunt marcate cu *

1 × two =